La XRF (ou spectrométrie par fluorescence X) est une technique d’analyse élémentaire non destructive, qualitative et quantitative des minéraux, pigments et alliages.
Elle peut être utilisée pour déterminer la composition chimique d’une grande variété de types d’échantillon et permet d’identifier les principaux éléments présents dans un échantillon solide ou en poudre. Elle est également utilisée pour déterminer l’épaisseur et la composition des couches picturales.
Cette technique repose sur le principe de fluorescence X : lorsqu’une quantité importante de rayons X (émis par une source d’excitation) est envoyée sur la surface d’un échantillon, ceux-ci s’y réfléchissent faisant ainsi réagir chaque élément de la surface de façon caractéristique. Ces rayonnements sont ensuite récupérés par le détecteur et traités afin d’en faire un spectre de fluorescence X.
Cette technique d’analyse permet la caractérisation des matériaux : détermination des différentes phases (composition chimique, structure cristalline) et description de la microstructure (taille des grains, texture, imperfections du réseau, etc.).
La spectrométrie par fluorescence X permet d’identifier des phases cristallisées, de donner des informations structurelles pour les matériaux inorganiques et permet la caractérisation de pigments, d’oxydes, etc.