La XRF (o spettrometria a fluorescenza di raggi X) è una tecnica di analisi qualitativa e quantitativa non distruttiva degli elementi minerali, pigmenti e leghe.
Può essere usata per determinare la composizione chimica di un’ampia varietà di tipologie di campioni solidi o in polvere e identificarne i principali elementi. Si usa anche per determinare lo spessore e la composizione degli strati pittorici.
La tecnica si basa sul principio della fluorescenza a raggi X: quando una grande quantità di raggi X viene diretta sulla superficie di un campione, essi si riflettono facendo reagire ogni elemento superficie in modo caratteristico. Questi raggi vengono poi raccolti dal rivelatore ed elaborati per produrre uno spettro di fluorescenza a raggi X.
Questa tecnica di analisi permette la caratterizzazione dei materiali: determinazione delle diverse fasi (composizione chimica, struttura cristallina) e descrizione della microstruttura (dimensione dei grani, struttura, imperfezioni della rete, ecc.)
La spettrometria a fluorescenza a raggi X permette l’identificazione di fasi cristallizzate, fornisce informazioni strutturali per materiali inorganici e permette la caratterizzazione di pigmenti, ossidi, ecc.